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元素、ガス、ゼータ電位、粒子、硬度粒径・粒度分析測定装置

粒子径・粒度分布

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ゼータ電位測定システム ELSZ-2000ZS
希薄溶液〜濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定に加え、分子量測定も可能な装置です。
大塚電子(株)
多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA
動的光散乱法(DLS法)による粒子径測定(粒子径0.6nm〜10μm)装置です。標準1分の高速測定。
大塚電子(株)
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo
粒度分布の分離能を向上させるため多角度測定を採用、粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析も可能
大塚電子(株)
ダイナミック光散乱光度計
ゼータ電位・粒径・分子量測定システム
濃厚系粒径アナライザー 他
大塚電子(株)
高濃度ナノ粒子用 粒度分布測定装置NANOPHOX/R
本装置は独自のPCCS方式により、従来の動的光散乱方式では測定が難しい高濃度ナノ粒子の粒度分布を高精度に測定する事が可能。
(株)日本レーザー
Sympatec GmbH

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画像解析式粒度分布測定装置
カムサイザー® P4、カムサイザー® X2
粒度分布と粒子形状の測定を同時に行えます。
ヴァーダー・サイエンティフィック(株)
Microtrac MRB(マイクロトラック)


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